照明
LED 和半导体照明（SSL）常被认为是未来照明的趋势：结合了低能耗，高效技术及使用寿命长等特点。但在LED和半导体照明产品的生产过程中，有个固有的挑战就是它们的亮度，颜色和闪烁这些光学特性，即便在同一生产批次中都会存在一定差异。为保证能生产出高端的照明产品，需要在LED产品的开发阶段就测量这些光学特性，并在生产过程中对所有产品进行检测。传统的LED-半导体照明产品测量包括：
几何与光学配置
| 辐射测量 | 光谱辐射计 | 光度计 | |
|---|---|---|---|
| 积分球 | 辐射功率 [W] | 光谱辐射功率 [W/nm] | 光功率 [lm] |
| 余弦校正器* | 辐照度 [W/m²] | 光谱辐照度 [W/m²/nm] | 照度 [lm/m² = lux] |
| 余弦校正器* | 辐射强度 [W/sr] | 光谱辐射强度 [W/sr/nm] | 发光强度 [lm/sr = cd] |
| 透镜 | 辐射 [W/m²/sr] | 光谱辐射 [W/m²/sr/nm] | 亮度 [lm/m²/sr/ = cd/m² = nit] |
*除了余弦矫正器，还可以用积分球来评定[光谱]辐照度和辐射强度/照度及发光强度
闪烁测量可以通过以上任意光学配置实现。
- 光谱功率分布 决定了光源每个不同波长的总发射功率，体现出光的不同属性，如: 显色性，CRI, CCT等等。
- 辐射，辐照度和辐射强度 测量可测出辐射功率量（W/m²/sr, W/m² 和 W/sr），以及PAR等参数。
- 亮度，照度和发光强度 测量分别决定了每平方米发出的光输出，光通量和发光强度。
- 闪烁 测量用来评定和校准光源的闪烁情况。目前支持：flicker 百分比，index 和 IEEE 1789建议。
- 2D 发光面 测量评定较大发光板或平面的不均匀性等特征。
您是如何进行测量的？
使用光纤和其他配件，可以进行更多类型的测量。常用的配件包括积分球、液体比色皿、光源或滤光片支架等。
余弦校正器可收集180度半球空间内的光线。其典型应用是照明场景的照度测量。
消费者已经习惯了在手机、平板电脑、笔记本电脑甚至汽车中享受顶级质量的显示屏。新兴技术，如用于办公室和家庭照明的发光表面，也被期望看起来同样完美。显示屏和发光表面是成像色度计的主要应用领域。
测量被测设备特定位置的亮度或颜色值是显示屏测试中的典型用例。然而，评估反射光也可能具有重要意义。
PCM2X-271
0.000 025 - 12 000 cd/m²
PCM2X-270
0.000 05 - 40 000 cd/m²
PCM2X-102
0.000 05 - 40 000 cd/m²
PCM2-100
0.0003 - 10 000 cd/m²
PCM2D-3-5-02
0.0001 - 5 000 cd/m²
Viewfinder 光谱仪
标准镜头 1.2° 光斑直径 4.56 mm ‑ 6.71 m
Viewfinder 光谱仪
微距镜头0.75° 光斑直径 0.96 ‑ 1.47 mm
2.1 mm 聚焦透镜色度计
0.001 - 30 000 cd/m² (UHL模式 190 000 cd/m²)
5 mm 色度计
0.001 - 30 000 cd/m² (UHL 模式 190 000 cd/m²)
10 mm 色度计
0.001 - 30 000 cd/m² (UHL模式 190 000 cd/m²)
10 mm 广角色度计
0.0003 - 7 500 cd/m² (UHL 模式 190 000 cd/m²)
20 mm 色度计
0.0003 - 7 500 cd/m² (UHL模式 48 000 cd/m²)
27 mm 广角色度计
0.0001 - 2 800 cd/m² (UHL模式 20 000 cd/m²)
光谱仪
可见光 380 - 780 nm
高端光谱仪
可见光 360 - 940 nm